簡要描述：三箱式冷熱沖擊試驗箱選型為整體式結(jié)構(gòu)，由箱體、低溫制冷系統(tǒng)、電控系統(tǒng)及閥門換氣系統(tǒng)四大部分構(gòu)成；工作室在箱體上前部，預(yù)冷室位于箱體的前下部,預(yù)熱室位于箱體后上部，電控系統(tǒng)位于箱體的右側(cè)面，制冷系統(tǒng)置于后下部。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2023-10-16
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產(chǎn)品詳情

三箱式冷熱沖擊試驗箱選型

三箱式冷熱沖擊試驗箱應(yīng)用

　執(zhí)行與滿足標準：

　　1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;

　　2、GB/T2423.2-2001;

　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;

　　4. GJB150.3-86;

　　5. GJB150.4-86;

　　6. GJB150.5-86;

　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;

　　8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

　　9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

　　10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式;

　　11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;

　　12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;

　　10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;

　　11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;

　　12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則;

　　13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

冷熱沖擊實驗箱規(guī)格/SPEC:（可根據(jù)用戶產(chǎn)品尺寸進行設(shè)計定制）

型號：	OK-TS-49	OK-TS-80	OK-TS-150	OK-TS-225
內(nèi)部尺寸(W×H×D)cm	40×35×30	50×40×40	60×50×50	70×60×60
外部尺寸(W×H×D)cm	145×180×140	150×185×145	185×150×250	190×170×270
蓄熱區(qū)儲能溫度范圍	RT (常溫)～+200℃
蓄冷區(qū)儲能溫度范圍	RT (常溫)～ -70℃
測試區(qū)實驗溫度范圍	熱沖實驗（+60℃～+150℃ ）
	冷沖實驗（A:0℃～-45℃/ B:0℃～-55℃ / C:0℃～-65℃）
沖擊方式	試品靜止（氣動氣缸風門切換高/低溫箱）
蓄熱區(qū)預(yù)熱時間	RT～150℃ 約 30分
蓄冷區(qū)預(yù)冷時間	RT～-70℃ 約 85分
沖擊恢復(fù)時間	低于5min
溫度控制精度	±0.5℃
溫度均勻度	±2.0℃
冷凍系統(tǒng)	全密閉式或半密閉式壓縮機，環(huán)保冷媒(R404A/R23)
材質(zhì)	內(nèi)箱SUS#304鏡面不銹鋼板, 外箱SUS#304不銹鋼板或烤漆。
保溫材質(zhì)	高強度防火PU發(fā)泡絕緣材料
配件	引線孔：￠50mm 1個/不銹鋼SUS #304板置物架（二層）
電源	電源線位于機器后面/AC380±5%V /50±0.5Hz /3相5線/長2.5米

　三箱式冷熱沖擊試驗箱選型

用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.